IC芯片測試夾具是(shì)在PCB測試基闆上設計制作的,用于測試集成電路的電氣性能測試的測試夾具,如各種封裝的集成電路芯片和電子元件、CPU、模塊核心闆等。
芯片測試夾具根據芯片的封裝類型、形狀尺寸、間距、PIN腳數量;如BGA2577芯片需要測試驗證:那麽我們必須知(zhī)道芯片封裝形式爲BGA,PIN腳數爲2577pin,引腳間距爲1.0mm、芯片尺寸爲52.5×52.5mm,這些參數在芯片規格書(shū)中均有體現(xiàn),芯片測試夾具是(shì)根據這些參數來選擇合适的測試座合金框架;
根據測試的需求不同分爲:
此外,我們還需要了解芯片測試要求、測試溫度、測試頻(pín)率、測試電流等。;測試需求的信息也很重要,芯片測試夾具因爲使用的探針和材料是(shì)相(xiàng)同的;當然,不同材料的價格肯定不同;