如何對CIS芯片進行測試？                        

一、CIS

圖像傳感器成爲連接現(xiàn)實世界和數據網絡的關鍵。CIS是(shì)CMOS圖像傳感器（CMOS Image Sensor），具有尺寸小、敏感度高、集成度高、功耗低、成像速度快、成本低等諸多優點，CIS芯片是(shì)相(xiàng)機的核心部件，相(xiàng)機是(shì)所有智能技術的重要組成部分。當前，CIS芯片廣泛應用于手機、相(xiàng)機、汽車電子、安全等領域。

在疫情的沖擊下，生活和工作模式加速了數字化，智慧生活成爲新常态。視頻(pín)會議(yì)、在線(xiàn)學習、消毒清潔機器人、無人機等。這種新的生活方式使世界各地的生活方式成爲一種新的生活方式CIS（CMOS根據圖像傳感器的需要，爆炸性增長。

移動應用正在越來越多地采用多攝像頭和指紋掃描攝像頭技術進行用戶身份驗證。随着芯片設計複雜(zá)度的增加，所需的測試時間也在增加。此外，汽車應用領域驗中，汽車應用領域也面臨着低溫和高溫試驗的影響，不同溫度下的多次試驗也顯著增加了試驗次數。随着圖像傳感器越來越複雜(zá)，越來越多的新功能不斷設計，CIS測試需求也多樣化。

二、CIS測試需求

（1）、DC&Function項測試

DC測試常見(jiàn)有OS，電壓、電流等；Function測試常見(jiàn)有DFT和BITS相(xiàng)關測試。

（2）、光源與控制

由于CMOS圖像傳感器的固有設備結構特征。每個像素和每個像素都有一個獨立的放(fàng)大器。圖像傳感器固定模式的噪聲會在放(fàng)大器中産生較小的不匹配或偏差。因此在CMOS圖像傳感器圖像傳感器之前，需要對圖像傳感器進行使用CMOS校準圖像傳感器。CMOS圖像傳感器校準光源常用的有白熾燈、鹵鎢燈、LED燈。白熾燈和鹵鎢燈存在發光效率低、功耗大等諸多問題。與前兩者相(xiàng)比，LED燈具有節能、環保、壽命長、體積小、功耗小等特點，因此采用了LED作爲CMOS圖像傳感器校準光源。

LED常用的光源調光方法有兩種，一種是(shì)PWM調光，一種爲DC調光；由于PWM調光，LED光源會有頻(pín)閃問題，現(xiàn)在大部分都用了DC調光。不同的色溫由控制器控制LED光源，滿足CISsensor測試要求。

（3）、Image圖像測試

1、圖像采集（需支持CPHY/DPHY接口協議(yì)）

近年來随着CMOS圖像傳感器不斷向高幀率和高像素的趨勢發展，相(xiàng)機傳輸圖像的數據量不斷躍升。通常用于有效的信号傳輸MIPID-PHY與MIPIC-PHY兩種傳輸接口，D-PHY采用單獨的時鍾同步線(xiàn)+數據Lane每一個傳輸結構Lane它由兩條差分線(xiàn)組成，具有較強的抗幹擾能力和驅動能力；C-PHY它是(shì)由三根沒有獨立時鍾的電壓驅動線(xiàn)組成的複雜(zá)傳輸結構，具有較弱的抗幹擾和驅動能力IC設計能力要求更高。但(dàn)MIPIC-PHY由于采用5進制傳輸，可提供較高的吞吐量，優于5進制傳輸，D-PHY二進制，傳輸量爲2.28倍，多用于高端手機平台。

2、圖像測試

常見(jiàn)的圖像測試有BlemishTest、BlackTest、WhiteTest等測試項。通過算法進行圖像的識别和判斷。

三、CIS測試方案

如何滿足不同的測試需求，降低測試成本，加快測試時間和産品上市時間？

将TesterIPC布置CISServer+ATEClient

CISServer:負責CIS整體測試業務測試

ATEClient:負責DC+Function測試

CISServer

使用IPC自帶的HP卡，控制Prober或Handlerd的動作

使用USB線(xiàn)，控制光源動作

使用網絡，控制ATEClient和IMAGEClient的動作

IMGClient

使用CIS高速圖像采集測試系統(ST8016C)，通過配置自制加速闆卡，實現(xiàn)圖像數據采集和圖像測試加速賦能。

四、鴻怡電子CIS芯片測試座産品解決方案

BGA484測試座支持芯片尺寸爲21*21*2.36mm,相(xiàng)應的測試座壓塊仿形及限位設計應根據芯片的形狀進行設計；

BGA484測試座需要支持芯片的性能，芯片的核心工作頻(pín)率爲333兆赫，最高電壓爲3333兆赫.3V，電源小于500mA/pin,FPGA的I/O。在設計和擴展過程中可能會有其他要求，因此需要與用戶進行溝通。

本測試治具沒有其他高頻(pín)、高速、高壓和大電流要求，因此可以根據上述性能設計測試座椅。這種性能要求不高，因此可以使用常規探頭進行調整。這裏需要注意的是(shì)FPGA類芯片，實際上不需要全484pin,其I/O有些嘴不需要使用，但(dàn)如果是(shì)調試或性能研發，建議(yì)全部使用pin，畢竟以後可能會有擴張需求；

BGA484測試座需要能夠安裝到測試主闆上，根據測試闆提供的光繪文件和實物測試版，3D模拟設計，形成相(xiàng)應的避空設計文件和外部結構測試座限制模塊文件，完成測試座的整體結構設計和定位