IC測試座(測試插座)是(shì)對IC器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生産制造缺陷及元器件不良的一種标準測試設備。
IC測試座,用于IC封裝後的測試,主要包含有互相(xiàng)組配的一上蓋闆與一基座。上蓋闆的内部容設有通孔,以及在鄰近前述的通孔附近設置有複數個測試探針,用以接觸IC,各測試探針的内部容設有測試彈簧。基座的内部容設至少一承靠座,對應于上蓋闆的通孔,用以承載待測IC。承靠座下方與基座之間設有至少一承靠彈簧,并且通孔與承靠座之間的距離(lí)小于IC封裝後的厚度,且承靠彈簧的彈性系數大于上述複數個測試彈簧的彈性系數的總和。
使用IC測試座的好處:
1)可避免待測IC于測試裝置測試時因尺寸不合而被壓損。
2)可避免因測試裝置與待測IC接觸不良而造成測試失敗。
3)以提升測試良率及降低制造成本。
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