QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻蓋探針芯片測試座

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QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻蓋探針芯片測試座

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QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻蓋探針芯片測試座

QFN24pin芯片測試夾具規格參數：
品牌：HMILU
芯片封裝形式：QFN
芯片引腳：24pin
芯片引腳間距：0.35mm
适配芯片尺寸：3*3mm

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産品詳情

鴻怡電子生産定制的QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻蓋探針芯片測試座的産品概述、性能、特點、規格、應用、生産廠家介紹

适用QFN24pin芯片測試環境：老化、測試、燒錄

QFN24pin芯片測試座産品簡介

1.芯片測試工作頻(pín)率50MHZ.
2.芯片測試最大電流0.15A
3.芯片測試溫度：-55度～125度

芯片測試座結構：翻蓋式

芯片測試座材料：合金

IC測試座

芯片測試座

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芯片測試夾具

QFN芯片測試座

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芯片封裝形式：DFN
芯片引腳：4pin
芯片引腳間距：1.05mm
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