您好，歡迎來到深圳市維愛科電子有限公司司官網
鴻怡測試座耐高低溫、抗老化、壽命長，世界500強企業指定供應商。
當前位置：首頁 » 鴻怡電子新聞中心 » 新聞中心 » 常見(jiàn)問題 » 測試探針的結構和使用壽命

測試探針的結構和使用壽命

返回列表 來源：鴻怡電子 查看手機網址
掃一掃!測試探針的結構和使用壽命掃一掃!
 浏覽：- 發布日期：2021-10-08 11:56:56【大 中 小】

           感謝您選擇深圳市維愛科電子有限公司司，我司主營各封裝芯片的老化座、測試座以及非标芯片、郵票(piào)孔模塊等需要精密測試器件的測試、老化socket定制。


            一般探針的材質爲铍銅，外爲鍍鎳金，由四個部分組成：針頭、針管、針尾、琴鋼絲；以此款探針的爲例，管徑爲0.65mm，适用于0.8pitch；耐電流爲：3A；機械測試壽命爲：30 W次；使用溫度爲：-25～+120°C；


  如有其他不明白的地方可以在網站對話(huà)窗口直接咨詢業務工程師

“推薦閱讀”

【本文标簽】：BGA測試治具 CPU測試架 測試夾具 探針座 IC功能檢測工裝夾具 定制測試治具夾具 鴻怡電子 老化座 測試座 CPU功能測試
【責任編輯】：鴻怡電子版權所有：https://www.hydz999.com轉載請注明出處

鴻怡電子推薦

相(xiàng)關常見(jiàn)問題

深圳市維愛科電子有限公司司

深圳市維愛科電子有限公司司 @版權所有信息

全國咨詢熱線(xiàn)：13632719880 電話(huà)：0755-83587595
傳真号碼：0755-23287415 郵箱：liu@hydz999.com
網站制作：牛商網（股票(piào)代碼：830770）
掃二維碼關注鴻怡電子掃一掃
進入手機網站