新能源汽車車規芯片QFN老化測試座

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新能源汽車車規芯片DFN封裝MOS場效應管\大功率管測試座_PDFN芯片老化座詳細信息/Detailed Information

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新能源汽車車規芯片DFN封裝MOS場效應管\大功率管測試座_PDFN芯片老化座

該QFN産品系列主要應用于新能源汽車車規芯片高低溫老化、性能測試使用
适用于PDFN、DFN、TO等封裝大電流大功率芯片、MOS管
常見(jiàn)的芯片有電源轉換芯片老化測試、動力分配傳感器芯片老化測試、電源管理芯片老化測試
使用環境溫度最高可達到200℃≤85HR@3000小時

訂購熱線(xiàn)：13631538587

産品詳情

MOS大功率管測試座（夾具）特點：
①測試座設計成翻蓋結構，使用測試簡單方便，壓合平穩接觸穩定。
②測試座外殼采用陽極硬氧鋁合金材質，表層絕緣耐磨、抗氧化強使用年限長。
③測試座使用進口雙頭探針接觸方式，相(xiàng)比同類測試産品使IC與PCB之間數據傳輸距離(lí)更短，從而使測試更穩定，頻(pín)率更高。
④測試（老化）PCB與Socket采用定位銷定位及防呆，采用螺絲連接、固定，拆卸、維護簡單方便。

DFN封裝測試座（夾具）特性
①結構：翻蓋式；
②外殼材質：鋁合金；
③接觸方式及材質：雙頭探針，铍銅鍍金；
④核心部件材質：peek陶瓷；
⑤額定電流：1A；
⑥操作壓力：30g、PIN越多壓力越大；
⑦接觸電阻：＜100mΩ；
⑧環境溫度：-55℃~175℃；
⑨機械壽命：100000；

工廠介紹

鴻怡電子生産的該QFN産品系列主要應用于新能源汽車車規芯片老化測試用，适用于電源轉換芯片老化測試、動力分配傳感器芯片老化測試、電源管理芯片老化測試，包含汽車EMC芯片老化測試、汽車氣壓控制芯片老化測試、汽車DSP控制器芯片老化測試、汽車液位檢測設備芯片老化測試、汽車ECU芯片老化測試、壓力傳感器芯片老化測試、汽車ASC芯片老化測試

新能源汽車芯片測試座

車規級汽車芯片測試座