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QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻蓋旋鈕芯片探針老化測試座詳細信息/Detailed Information

QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻蓋旋鈕芯片探針老化測試座

QFN24pin芯片老化測試座規格參數：
品牌：HMILU
芯片封裝形式：QFN
芯片引腳：24pin
芯片引腳間距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
訂購熱線(xiàn)：13631538587
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鴻怡電子生産定制的QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻蓋旋鈕芯片探針老化測試座的産品概述、性能、特點、規格、應用、生産廠家介紹

适用QFN24pin芯片測試環境：老化、測試、燒錄，支持芯片HAST/HTOL測試

QFN24pin芯片測試座産品間距：

芯片測試電流：500mA

HAST測試：+130°，85%濕度

HTOL測試：溫循-55°~+125°，單次滿足1000小時

芯片老化座結構：旋鈕翻蓋式

IC測試座

芯片測試座

QFN芯片測試socket

芯片測試夾具

芯片測試socket

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芯片封裝形式：DFN
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芯片引腳間距：1.05mm
适配芯片尺寸：0.65*0.45mm

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