GDDR5探針測試座 BGA178測試架 夾具 工裝 2.8GHz高頻(pín)測試詳細信息/Detailed Information
GDDR5探針測試座 BGA178測試架 夾具 工裝 2.8GHz高頻(pín)測試
①适用于常規的BGA178-0.8封裝的GDDR5顆粒芯片；
②雙頭高頻(pín)測試探針，可過2.8GHz高頻(pín)型号；
③帶PCB轉接闆，采購回去(qù)在PCB闆子上面植球即可像SMT貼片一樣把測試座直接貼在PCB上面适用；
④适用壽命100000次；
⑤适用環境溫濕度爲-55~155℃≤85%hr；
②雙頭高頻(pín)測試探針，可過2.8GHz高頻(pín)型号；
③帶PCB轉接闆，采購回去(qù)在PCB闆子上面植球即可像SMT貼片一樣把測試座直接貼在PCB上面适用；
④适用壽命100000次；
⑤适用環境溫濕度爲-55~155℃≤85%hr；
訂購熱線(xiàn)：13631538587
測試座（夾具）特點：
①适用于常規的BGA178-0.8封裝的GDDR5顆粒芯片；
②雙頭高頻(pín)測試探針，可過2.8GHz高頻(pín)型号；
③帶PCB轉接闆，采購回去(qù)在PCB闆子上面植球即可像SMT貼片一樣把測試座直接貼在PCB上面适用；
④測試座設計成翻蓋結構，使用測試簡單方便，壓合平穩接觸穩定。
⑤測試座外殼采用陽極硬氧鋁合金材質，表層絕緣耐磨、抗氧化強使用年限長。
⑥測試座使用進口雙頭探針接觸方式，相(xiàng)比同類測試産品使IC與PCB之間數據傳輸距離(lí)更短，從而使測試 更穩定，頻(pín)率更高。
⑦測試（老化）PCB與Socket采用定位銷定位及防呆，采用螺絲連接、固定，拆卸、維護簡單方便。
測試座（夾具）特性
①結構：翻蓋式；
②外殼材質：鋁合金；
③接觸方式及材質：雙頭探針，铍銅鍍金；
④核心部件材質：peek陶瓷；
⑤額定電流：1A；
⑥操作壓力：30g、PIN越多壓力越大；
⑦接觸電阻：＜100mΩ；
⑧環境溫度：-55℃~175℃；
⑨機械壽命：100000；
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深圳市維愛科電子有限公司司是(shì)一家集研發、生産、銷售于一體的技術型高新企業。公司專注研發生産各類應用于芯片功能驗證的IC test socket/fixture、老化座、燒錄座、FPC/BTB測試模組，提供專業的芯片測試老化解決方案。
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