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大電流彈片微針模組詳細信息/Detailed Information

大電流彈片微針模組

測試座 – 微針模組
封裝類型ZIF, BTB 連接器 (公母座), BTB Connector, PCB
引腳數2~100
間距0.175mm ~ 0.4mm
導電體Other
用于小間距的FPC/連接器,照相(xiàng)機模組、馬達模組、硬盤和軟盤磁頭模組,各類觸摸顯示屏等的電氣性能測試。
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測試座 – 微針模組

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1498021773838812.gif 使用特殊工藝制造的微針(Blade Pin), 微針厚度可小于100μm(0.1mm)

1498021773838812.gif 用于小間距ZIF, BTB 連接器 (公母座),間距可小至0.175mm

1498021773838812.gif 根據客戶的具體應用要求,定制微針針頭形狀

1498021773838812.gif 良好的接觸特性,接觸穩定性好,可靠性高

1498021773838812.gif 阻值低于50mΩ,壽命大于30萬次



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  • 微針模組應用于手機電池、照相(xiàng)機模組、馬達模組、硬盤和軟盤磁頭模組,各類觸摸顯示屏,等的電氣性能測試;

  • 微針(Blade Pin)爲一體化設計,精度高,阻抗小,過流能力強;

  • 兼容手動和自動測試;

  • 高性價比;

  • 可根據客戶具體應用需求定制微針(Blade Pin);

  • 耐電流可最大至40A。

連接器圖示

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  • 微針模組應用于手機電池、照相(xiàng)機模組、馬達模組、硬盤和軟盤磁頭模組,各類觸摸顯示屏,等的電氣性能測試;

  • 微針(Blade Pin)爲一體化設計,精度高,阻抗小,過流能力強;

  • 兼容手動和自動測試;

  • 高性價比;

  • 可根據客戶具體應用需求定制微針(Blade Pin);

  • 耐電流可最大至40A。

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機械性能

測試座材料: LCP, PAI 或 PEEK

微針材料:  鎳合金鍍金

探針類型:       微針彈片(Blade Pin)

工作溫度:  -55 ~ 175

探針壽命:        30萬次

彈簧彈力:  30g ~ 50g 每 Pin


電性能

額定電流:  3A ~ 40A

DC電阻:         <50mΩ

接觸成功率:    99.5%






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